Mikroskopia elektronowa umożliwia obserwację detali, które są niewidoczne dla konwencjonalnego mikroskopu optycznego. Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) wykorzystuje wiązkę elektronów do szczegółowego badania struktur w skali mikroskopowej. Dzięki jego zastosowaniu można osiągnąć rozdzielczość na poziomie nanometrów, co pozwala dostrzec detale niewidoczne dla urządzeń optycznych. Elektrony z wiązki wchodzą w interakcję z powierzchnią próbki, generując sygnał do utworzenia obrazu. Technologia ta znajduje zastosowanie w biologii, przemyśle oraz badaniach materiałowych. Zastosowanie mikroskopii elektronowej obejmuje analizę struktur, kontrolę jakości materiałów oraz badania powierzchni.
Mikroskopia elektronowa umożliwia badanie defektów zarówno na powierzchni, jak też wewnątrz materiału. Mogą to być bardzo drobne pęknięcia (mikropęknięcia), zanieczyszczenia lub wady między warstwami. Mikroskop SEM umożliwia też identyfikację i wizualizację różnego typu wad korozyjnych na powierzchni materiału.
W wybranych zastosowaniach występuje wymóg gwarantowanej grubości powłoki ochronnej, która może składać się z kilku warstw różnych materiałów (np. niklu, miedzi, epoksydu, itp.). W przypadku precyzyjnych elementów klejonych istotne jest sprawdzanie określonej grubości warstwy kleju (np. w magnesach laminowanych).