Mikroskopia elektronowa umożliwia obserwację detali, których nie można dostrzec za pomocą konwencjonalnego mikroskopu optycznego. Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) wykorzystuje wiązkę elektronów do szczegółowego badania struktur w skali mikroskopowej. Dzięki jego zastosowaniu można osiągnąć rozdzielczość na poziomie nanometrów, co pozwala dostrzec detale niewidoczne dla urządzeń optycznych. Elektrony z wiązki oddziałują z powierzchnią próbki, generując sygnał wykorzystywany do tworzenia obrazu. Technologia ta znajduje zastosowanie w biologii, przemyśle oraz badaniach materiałowych. Zastosowanie mikroskopii elektronowej obejmuje analizę struktur, kontrolę jakości materiałów oraz badania powierzchni.
Mikroskopia elektronowa umożliwia badanie defektów zarówno na powierzchni, jak i wewnątrz materiału. Mogą to być bardzo drobne pęknięcia (mikropęknięcia), zanieczyszczenia lub wady między warstwami. Mikroskop SEM umożliwia też identyfikację i wizualizację różnego typu wad korozyjnych na powierzchni materiału.
W wybranych zastosowaniach wymagane jest zagwarantowanie określonej grubości powłoki ochronnej, która może składać się z wielu warstw różnych materiałów (np. niklu, miedzi, epoksydu itp.). W przypadku precyzyjnie klejonych części ważna jest kontrola zdefiniowanej grubości warstwy kleju (np. w magnesach laminowanych).